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西门子推最新解决方案 满足3D IC与chiplet设计与测试需求

西门子推最新解决方案 满足3D IC与chiplet设计与测试需求

【记者吕承哲/台北报导】西门子数位工业软体宣布推出全新 Tessent IJTAG Pro,透过将原本串列架构转为平行运作,全面革新基于 IEEE 1687 的 IJTAG 测试流程。新方案支援高频宽内部 JTAG(IJTAG)与资料串流功能,并整合西门子 Tessent 串流扫描网路(SSN)宽汇流排架构,大幅提升资料传输速度,有助降低测试成本、缩短测试时间。

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